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OLED光色电特性测试解决方案 OLED光色电特性测试解决方案

系统简介

远方光电的OLED测试解决方案主要包括: OLED器件 的IVL测试系统、OLED显示器/器件光学特性测试、OLED显示器光色电测试系统、面测量仪器、高低温环境下OLED显示屏的综合测量、薄膜和玻璃雾度和透过率测试系统等,满足OLED国际及国内相关标准要求。
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OLED 器件的IVL测试系统

OLED-200光色电综合测试系统是远方公司基于多年的科学研究和生产经验,采用多项先进专利技术,成功开发的一款用于OLED光色电性能分析的系统。主要用于OLED器件的发光亮度、色度、均匀性等光学参数,以及电压、电流等电学参数的测量评价。该设备能够在高精度下稳定输出电流和电压,并准确检测器件亮度及色度参数,实时记录输出及测试数据,实现IVL测试、亮度色度分布测试及寿命测试等功能。
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OLED器件老化寿命/光学特性测试

OLED-1000多路OLED加速老化寿命与光电性能分析系统集暗箱、高精度测试组件、精密直流电源、全自动转台于一体,并配有智能测控软件,能实现自动化、高精度测试。主要用于多片OLED器件加速老化寿命测试、不同视角下的亮度色度分布测试及常规的光、色、电性能分析。
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OLED显示器老化寿命/光学特性测试

OLED-2000 多路OLED加速老化寿命与光电性能分析系统集高低温箱、高精度测试组件、全自动转台于一体,并配有智能测控软件,能实现被测样品光色的多功能、自动化、高精度测试。主要用于多片OLED屏幕的高低温测试以及光、色性能分析。
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OLED的光色电测试系统

测试OLED的外量子效率、光通量、光效、光功率、相对光谱功率分布、色品坐标、色温、主波长、峰值波长、光谱半宽度、显色指数、色纯度、红色比、色容差、电压、电流等参数。
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OLED亮度和色度均匀性测试系统

CXC系列成像彩色亮度计精确匹配CIE 1931配色函数,通过一次取样测量可以获得视场内各点的亮度、色度及其均匀性信息,主要用于测量OLED显示屏的亮度、亮度均匀性、色品坐标、色温、色度均匀性等参数。不仅适用于实验室测量,也可应用于生产线中光学品质控制。
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OLED显示器亮度和色度均匀性及白平衡测试系统

SRC系列光谱彩色亮度计是远方光电基于近30年的光辐射测量的技术沉淀,结合精密的光学设计技术和高性能电子信号处理技术,推出的高精度光谱彩色亮度计。它是集光谱、亮度、颜色测量功能于一体,特别适用于OLED低亮度下测试,即使低亮度下也能保持卓越的精度及测量速度。
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薄膜和玻璃雾度和透过率测试系统

HAM系列高精度光谱雾度计主要用于玻璃盖板、光学膜等材料不同波长下的光谱透光率、雾度以及材料在特定光源下光色性能测试,参照ASTM D1003,GB/T 2410,ISO14782等标准的要求。光谱波段范围覆盖380-1000nm适合大小尺寸样品的测试需求。
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OLED显示器的供电电源、谐波及电性能检测

主要用于给显示器提供直流稳定的供电条件,并测量显示器的电压、电流、功率、待机功耗等电性能参数。
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显示器的电磁兼容EMC测试

按照显示器相关标准要求,对车载/机载显示器等进行电磁兼容试验。测试项目涉及EMI传导干扰试验、静电放电(ESD)、快速瞬变脉冲(EFT)、雷击浪涌(SURGE)、周波跌落(DIP)及相关辐射骚扰、抗扰度测试等。
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