OLED-200 OLED光色电性能分析系统
一体化暗箱设计
IVL曲线及EQE的一体化测量
典型应用场景
OLED-200 OLED光色电性能分析系统集高精度光谱亮度计、暗箱、移动装置、电源及专用测试软件于一体，可用于OLED器件和模组的发光亮度、色品坐标、色域、亮度和色度均匀性等光学参数，以及电压、电流、功耗等电学参数的测量评价。该设备能够在高精度下稳定输出电流和电压，并准确检测器件亮度及色度参数，实时记录输出及测试数据。实现IVL测试、亮度色度分布测试及寿命测试等功能。
主要特点
一、集光谱、亮度、颜色测量功能于一体
可测量的参数包括亮度、相对光谱功率分布、色品坐标、相关色温、显色指数、色域覆盖率等，涵盖了被测对象的光度、光谱及颜色参数。
二、高性能光谱系统，测试精度更高
采用光谱法（分光法）实现亮度及颜色参数，不存在V(λ)失匹配和XYZ三刺激值探测器的匹配误差,测量精度更高。远方的光谱分析系统已有二十余年的生产经验，拥有三十多项专利技术，设备可靠、稳定。
主要技术指标
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